Жақында АҚШ Энергетика министрлігі (DOE) ұзақ мерзімді жеделдетілген қызмет мерзімін сынауға негізделген жарықдиодты драйверлер туралы үшінші сенімділік есебін шығарды.АҚШ Энергетика министрлігінің қатты күйдегі жарықтандыру (SSL) зерттеушілері соңғы нәтижелер әртүрлі қатал жағдайларда жеделдетілген қысым сынағы (AST) әдісінің тамаша өнімділігін растайды деп санайды.Сонымен қатар, сынақ нәтижелері және өлшенген сәтсіздік факторлары драйвер әзірлеушілеріне сенімділікті одан әрі жақсарту үшін тиісті стратегиялар туралы хабарлауы мүмкін.

Белгілі болғандай, LED драйверлері ұнайдыЖарық диодты компоненттердің өзі, оңтайлы жарық сапасы үшін өте маңызды.Сәйкес драйвер дизайны жыпылықтауды жояды және біркелкі жарықтандыруды қамтамасыз етеді.Сондай-ақ драйвер ең ықтимал компонент болып табыладыЖарықдиодты шамдарнемесе жарықтандыру құрылғыларының дұрыс жұмыс істемеуі.Драйверлердің маңыздылығын түсінгеннен кейін DOE 2017 жылы ұзақ мерзімді драйверлерді сынау жобасын бастады. Бұл жоба бір арналы және көп арналы драйверлерді қамтиды, олар төбедегі ойықтар сияқты құрылғыларды бекіту үшін пайдаланылуы мүмкін.

АҚШ Энергетика министрлігі бұрын сынақ процесі мен барысы туралы екі есеп шығарды, енді бұл AST жағдайында 6000-ден 7500 сағатқа дейін жұмыс істейтін өнімді сынау нәтижелерін қамтитын үшінші сынақ деректерінің есебі.

Шындығында, салада көптеген жылдар бойы қалыпты жұмыс жағдайында дискілерді сынауға көп уақыт жоқ.Керісінше, АҚШ-тың Энергетика министрлігі мен оның мердігері RTI International дискіні 7575 деп атайтын ортада сынады – үй ішіндегі ылғалдылық пен температура тұрақты түрде 75 ° C деңгейінде сақталады. Бұл сынақ жүргізушіні тексерудің екі кезеңін қамтиды. арна.Бір сатылы дизайнның құны аз, бірақ алдымен айнымалы токты тұрақты токқа түрлендіретін, содан кейін екі сатылы дизайнға ғана тән токты реттейтін жеке схема жоқ.

АҚШ Энергетика министрлігі 11 түрлі дискілерде жүргізілген сынақтарда барлық дискілер 7575 ортасында 1000 сағат бойы жұмыс істегенін хабарлады.Диск қоршаған орта бөлмесінде орналасқанда, диск жетегіне жалғанған жарық диодты жүктеме сыртқы орта жағдайында орналасады, сондықтан AST ортасы диск жетегіне ғана әсер етеді.DOE AST жағдайларындағы жұмыс уақытын қалыпты ортадағы жұмыс уақытымен байланыстырған жоқ.Құрылғылардың бірінші партиясы 1250 сағат жұмыс істегеннен кейін сәтсіз аяқталды, дегенмен кейбір құрылғылар әлі де жұмыс істейді.4800 сағат тестілеуден кейін құрылғылардың 64% сәтсіз аяқталды.Дегенмен, қатаң сынақ ортасын ескере отырып, бұл нәтижелер қазірдің өзінде өте жақсы.

Зерттеушілер ақаулардың көпшілігі драйвердің бірінші сатысында, әсіресе қуат факторын түзету (PFC) және электромагниттік кедергілерді (EMI) басу тізбектерінде болатынын анықтады.Драйвердің екі сатысында да MOSFET-те ақаулар бар.Драйвер дизайнын жақсартатын PFC және MOSFET сияқты аймақтарды көрсетуден басқа, бұл AST сонымен қатар қателерді әдетте драйвер жұмысын бақылау негізінде болжауға болатындығын көрсетеді.Мысалы, қуат коэффициентін және ток тогын бақылау ерте ақауларды алдын ала анықтай алады.Жыпылықтаудың артуы сонымен қатар ақаулық орын алатынын көрсетеді.

Ұзақ уақыт бойы DOE SSL бағдарламасы SSL саласында, соның ішінде шлюзде маңызды сынақтар мен зерттеулер жүргізді.